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HOLTEK MCU 中使用SAR ADC 架构，在ADC 开启时，因对内部Sampling电容 进行平衡充电，可能会有小脉冲出现，影响A/D 转换值正确性，以下提供实际案例所 遇到的问题，并提供几种可行方案及可有效降低Sampling 突波影响。 以上图为例，使用进行温度量测电路，发现ADC 量测数值，有偏高的现象。 VDD =3.3V Fsys=910khz ADC clock=910khz 当要进行温度量测时PC2 输出High，再开启ADC 并进行采样与转换 测量到实际信号340mV 理论ADC值是422，而经过MCU转换后得到ADC值为442，换算为电压为356mV，误差16mV。
下面分析一下 ADC Sampling时的内部等效图：
Vcm为内部比较电压
一、当测量电压低于1/2VDD
当外部测量电压低于1/2VDD时，在ADCSampling 期间，S1 与S2 导通瞬间， 电流方向会由内部比较电压，透过 C1 流向外部，直到C1 饱和或Sampling 结束， 若外部没有滤波电容，且测量回路的阻抗较高时，则会量测到较高的上冲突波。
二、当测量电压高于1/2VDD
外部测量电压高于1/2VDD时，在ADCSampling 期间，S1 与S2 导通瞬间， 电流方向会由外部侦测电压，透过 C1 向流向内部比较电压，直到C1饱和或 Sampling 结束，若外部没有滤波电容，且侦测回路的阻抗较高时，则会量测到 下降突波。
将外部电路等效：
总结：有效降低波形突变，提高ADC精度 1，选择正确的ADC clock频率。 2，外加滤波电容，特别是回路阻抗较高的场合，建议值在0.01uF ~ 0.1uF。 3，采用多次采样方法，可降低突变波形。 编写AD 采样程序，在AD 采样开始前先执行一次、两次Reset AD 后，再开始 执行AD 采样下AN5 的波形及AD 值. START 从0 ->1 :Reset AD； START 从0 ->1 ->0：Start ADC
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发表于 2017-1-20 10:14:28
发表于 2017-1-20 20:51:48
